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위상배열 초음파 탐상(PAUT)은 다수의 초음파 트랜스듀서를 배열하여 전자적으로 빔을 제어하고 스캔하는 고급 비파괴 검사 기술입니다. 이 기술은 기존 초음파 탐상에 비해 검사 속도, 결함 검출 능력, 이미지 품질 등에서 뛰어난 성능을 제공합니다. 다양한 주사 방식을 통해 복잡한 형상이나 접근이 제한된 영역에서도 효과적인 검사가 가능하며, 능동형 전자 주사식 위상배열 레이더(AESA)와 유사한 빔 제어 원리를 활용합니다. PAUT는 발전, 석유화학, 항공우주 등 다양한 산업 분야에서 용접부, 복합재, 특수 소재 등의 품질 검사에 널리 사용됩니다.
AESA와(과) 같은 회차·문항에서 함께 출제된 키워드입니다. 연계 학습 시 효율이 높습니다.